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變頻介質(zhì)損耗測試儀廣泛的應(yīng)用性
點擊次數(shù):1606 更新時間:2016-06-29 打印本頁面 返回

變頻介質(zhì)損耗測試儀廣泛的應(yīng)用性

特點及性能

介損絕緣試驗可以有效地發(fā)現(xiàn)電器設(shè)備絕緣的整體受潮劣化變質(zhì)以及局部缺陷等,在電工制造、電氣設(shè)備安裝、交接和預(yù)防性試驗中都廣泛應(yīng)用。

介質(zhì)損耗測量儀用于現(xiàn)場介損測量或試驗室精密介損測量。儀器為一體化結(jié)構(gòu),內(nèi)置介損電橋、變頻電源、試驗變壓器和標(biāo)準(zhǔn)電容器等。儀器采用變頻抗干擾和傅立葉變換數(shù)字濾波技術(shù),全自動智能化測量,強(qiáng)干擾下測量數(shù)據(jù)非常穩(wěn)定。測量結(jié)果由大屏幕液晶顯示,儀器自帶微型打印機(jī)可打印輸出測試結(jié)果。

1.1主要技術(shù)指標(biāo)

額定工作條件:環(huán)境溫度  -10℃~50℃

相對濕度  <85%

輸入電源:    180V~270VAC,50Hz/60Hz±1%,市電或發(fā)電機(jī)供電

準(zhǔn)確度:      Cx: ±(讀數(shù)×1%+1pF)

tgδ: ±(讀數(shù)×1%+0.00040)

抗干擾指標(biāo):         變頻抗干擾,在200%干擾下仍能達(dá)到上述準(zhǔn)確度

電容量范圍:         內(nèi)施高壓:3pF~60000pF/10kV    60pF~1μF/0.5kV

外施高壓:3pF~1.5μF/10kV      60pF~30μF/0.5kV

分辨率:           高0.001pF,4位有效數(shù)字

tgδ范圍:     不限,分辨率0.001%,電容、電感、電阻三種試品自動識別。

試驗電流范圍: 10μA~

內(nèi)施高壓:    設(shè)定電壓范圍:0.5~10kV

大輸出電流:200mA

升降壓方式:連續(xù)平滑調(diào)節(jié)

電壓精度:±(1.0%×讀數(shù)+10V)

電壓分辨率:0.1V

試驗頻率:45、50、55、60、65Hz 單頻

45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz 自動雙變頻

頻率精度:±0.01Hz

外施高壓:    正、反接線時大試驗電流

CVT自激法低壓輸出:輸出電壓3~50V,輸出電流3~30A

高電壓介損:  支持變頻和諧振電源高電壓介損

實時時鐘:    實時顯示時間和日期

內(nèi)部存儲:    儀器內(nèi)部可存儲100組測量數(shù)據(jù)

U盤:        支持U盤存儲

打印機(jī):      微型熱敏打印機(jī)

計算機(jī)接口:  標(biāo)準(zhǔn)RS232接口(選配)

尺寸重量:    K型:外形尺寸368mm×288mm×280mm;主機(jī)重量22kg。

其他款型:外形尺寸430mm×314mm×334mm;主機(jī)重量30kg。

注:上述為E型主要技術(shù)指標(biāo),其它型號技術(shù)指標(biāo)詳見本章節(jié)“1.3.6各型號測試功能說明”。

 

1.2 系列型號功能列表

產(chǎn)品

型號

電容測量

范圍(10kV)

大輸出

電壓/電流

高電壓

介損

正接

反接

反接線

低壓屏蔽

CVT自激法

CVT

變比

B型

3pF~40nF

10kV/140mA

支持

外部自激升壓

D型

3pF~60nF

10kV/200mA

支持

C11/C下節(jié)

同時測量

C1/C2同時測量

高壓測量線需懸空

E型

3pF~60nF

10kV/200mA

支持

C11/C下節(jié)

同時測量

C1/C2同時測量

高壓測量線可拖地

F型

3pF~60nF

12kV/200mA

支持

C11/C下節(jié)

同時測量

C1/C2同時測量

高壓測量線可拖地

K型

3pF~60nF

10kV/200mA

支持

C11/ C下節(jié)同時測量

C1/C2同時測量

高壓測量線可拖地

S型

(四通道)

3pF~60nF

10kV/200mA

支持

C11/C下節(jié)

同時測量

C1/C2同時測量

高壓測量線可拖地

J型

(0.5%)

3pF~60nF

10kV/200mA

支持

C11/C下節(jié)

同時測量

C1/C2 同時測量

高壓測量線可拖地

1.3 主要功能特點

1.3.1 變頻抗干擾

采用變頻抗干擾技術(shù),在200%干擾下仍能準(zhǔn)確測量,測試數(shù)據(jù)穩(wěn)定,適合在現(xiàn)場做抗干擾介損試驗。

1.3.2高精度測量

采用數(shù)字波形分析和電橋自校準(zhǔn)等技術(shù),配合高精度三端標(biāo)準(zhǔn)電容器,實現(xiàn)高精度介損測量。儀器所有量程輸入電阻低于2Ω,消除了測量電纜附加電容的影響。

1.3.3安全措施

高壓保護(hù):試品短路、擊穿或高壓電流波動,能以短路方式高速切斷輸出。

供電保護(hù):誤接380V、電源波動或突然斷電,啟動保護(hù),不會引起過電壓。

接地保護(hù):具有接地檢測功能,未接地時不能升壓,若測量過程中儀器接地不良則啟動接地保護(hù)。

CVT 保護(hù):高壓側(cè)電壓和電流、低壓側(cè)電壓和電流四個保護(hù)限制,不會損壞設(shè)備;誤選菜單不會輸出激磁電壓。CVT測量時無10kV高壓輸出。

防誤操作:兩級電源開關(guān);電壓、電流實時監(jiān)視;多次按鍵確認(rèn);接線端子高/低壓分明;慢速升壓,可迅速降壓,聲光報警。

防“容升”:測量大容量試品時會出現(xiàn)電壓抬高的“容升”效應(yīng),儀器能自動跟蹤輸出電壓,保持試驗電壓恒定。

高壓電纜:為耐高壓絕緣導(dǎo)線,可拖地使用。

抗震性能:儀器采用*抗震設(shè)計,可耐受強(qiáng)烈長途運輸震動、顛簸而不會損壞。

1.3.4打印存儲

儀器自帶微型打印機(jī),可以將測量結(jié)果打印輸出,并將測量結(jié)果存貯到儀器內(nèi)(可存儲100組測量數(shù)據(jù))或U盤,以便日后查閱。

1.3.5實時時鐘

儀器內(nèi)帶實時時鐘,實時顯示,并能記錄測量的日期和時間。

1.3.6各型號測試功能說明

B型:輕便型,高壓大輸出電流為140mA,具有正接線、反接線功能,可選擇內(nèi)/外標(biāo)準(zhǔn)電容、內(nèi)/外高壓多種工作模式,一體化結(jié)構(gòu),可做各種常規(guī)介損試驗。

D型:實用型,高壓大輸出電流為200mA,具有正接線、反接線、反接線低壓屏蔽、CVT自激法,反接線低壓屏蔽功能能在220kV CVT母線接地情況下,對C11進(jìn)行不拆線10kV反接線介損測量,并可一次接線同時測出兩個電容的電容量和介損值。CVT自激法測量時,C1/C2可一次接線同時測出,無須換線和外接任何配件,但高壓測量線需懸空吊起。

E型:標(biāo)準(zhǔn)型,在D型基礎(chǔ)上增加了CVT變比測試功能,同時升級了CVT自激法測試,現(xiàn)場CVT自激法測試時高壓測量線可拖地使用,無需吊起。

F型:增強(qiáng)型,功能同E型,輸出高電壓從10kV增加至12kV。

K型:標(biāo)準(zhǔn)型,在E型基礎(chǔ)上減小體積重量,設(shè)備更精巧。

S型:四通道型,功能同E型,增加了3個正接通道。

J型:高精度型,功能同E型,測量準(zhǔn)確度為0.5%。

所有型號儀器均具備下述特點:

(1)支持變頻和諧振電源高電壓介損。

(2)內(nèi)置串聯(lián)和并聯(lián)兩種介損測量模型,方便儀器檢定。

(3)配置熱敏打印機(jī),使打印更加快捷、無噪音和清晰。

(4)320×240點陣大屏液晶顯示,菜單操作,測試數(shù)據(jù)豐富,自動分辨電容、電感、電阻型試品。

(5)具有外接標(biāo)準(zhǔn)電容器接口,可外接油杯做精密絕緣油介損試驗,可外接固體材料測量電極做精密絕緣材料介損試驗,也可外接高壓標(biāo)準(zhǔn)電容器做高電壓介損試驗。

(6)帶日歷時鐘,可存儲100組測量數(shù)據(jù)。

(7)計算機(jī)接口(選配)。

 

變頻介質(zhì)損耗測試儀廣泛的應(yīng)用性

面板說明

高壓輸出測量接地:若出廠配置的高壓測試線有接地屏蔽層,則需將高壓測量線的接地屏蔽層連接至此處,沒有則留空。CVT自激法測量的高壓連線接地屏蔽層在拖地模式下必須接地,非拖地模式下接地屏蔽層應(yīng)懸空不能接地且高壓測量線也應(yīng)懸空吊起不能拖地。

高壓輸出插座(0.5~10kV,大200mA)

安裝位置:如圖2-1所示,安裝在箱體前側(cè)面。

功    能:內(nèi)高壓輸出;檢測反接線試品電流;內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)電容器的高壓端。

接線方法:插座1腳接高壓線芯線(紅夾子),2、3腳接高壓線屏蔽(黑夾子)。正接線時,高壓線芯線(紅夾子)和屏蔽(黑夾子)都可以用作加壓線;反接線時只能用芯線對試品高壓端加壓。如果試品高壓端有屏蔽極(如高壓端的屏蔽環(huán))可接高壓屏蔽,無屏蔽時高壓屏蔽懸空。若配置的高壓測試線有接地屏蔽層,則需將高壓測量線的接地屏蔽層連接至圖2-1中的“1”處。

變頻介質(zhì)損耗測試儀廣泛的應(yīng)用性

注意事項:

(1)若儀器CVT自激法高壓連線具備“高壓拖地”功能,使用拖地模式測量時務(wù)必使用原廠配置的高壓電纜(原廠電纜在出廠時已進(jìn)行校準(zhǔn)),不可使用其它高壓電纜代替,否則會引起較大的測量誤差。CVT自激法不使用拖地模式時,高壓電纜必須懸空,接地屏蔽層也不能接地!

(2)高壓插座和高壓線有危險電壓,禁止碰觸高壓插座、電纜、夾子和試品帶電部位!確認(rèn)斷電后接線,測量時務(wù)必遠(yuǎn)離!

(3)用標(biāo)準(zhǔn)介損器(或標(biāo)準(zhǔn)電容器)檢定反接線精度時,應(yīng)使用全屏蔽插頭連接試品,否則暴露的芯線會引起測量誤差。

(4)應(yīng)保證高壓線與試品高壓端零電阻連接,否則可能引起誤差或數(shù)據(jù)波動,也可能引起儀器保護(hù)。

(5)強(qiáng)干擾下拆除接線時,應(yīng)在保持電纜接地狀態(tài)下斷開連接,以防感應(yīng)電擊。

CVT自激法低壓輸出插座(3~50V,3~30A)

功    能:由該插座和圖2-1中的接地接線柱“4”輸出CVT測量的低壓變頻激勵電源。

變頻介質(zhì)損耗測試儀廣泛的應(yīng)用性

注意事項:

(1)因低壓輸出電流大,應(yīng)采用儀器低阻線連接CVT二次繞組,接觸不良會影響測量。

(2)視CVT容量從菜單選擇合適的電壓電流保護(hù)限。

(3)選擇正/反接線時,此輸出封閉。

測量接地:它同外殼和電源插座地線連到一起,與圖2-1的“3”一起輸出CVT測量的低壓變頻激勵電源。盡管儀器有接地保護(hù),但無論何種測量,儀器都應(yīng)可靠獨立接地以保障使用者的安全及測量結(jié)果的準(zhǔn)確。

打印機(jī):微型熱敏打印機(jī),用于打印測試數(shù)據(jù)。

USB:USB通信用。

RS232:與計算機(jī)聯(lián)機(jī)使用。

U盤:用于外接U盤保存數(shù)據(jù)。

試品輸入Cx插座(10μA~)

功    能:正接線時輸入試品電流。

接線方法:插座1腳接測量線芯線(紅夾子),2、3腳接測量線屏蔽(黑夾子)。正接線時芯線(紅夾子)接試品低壓信號端,如果試品低壓端有屏蔽極(如低壓端的屏蔽環(huán))可接屏蔽,試品無屏蔽時屏蔽懸空。

變頻介質(zhì)損耗測試儀廣泛的應(yīng)用性

注意事項:

(1)測量中嚴(yán)禁拔下插頭,防止試品電流經(jīng)人體入地!

(2)用標(biāo)準(zhǔn)介損器(或標(biāo)準(zhǔn)電容器)檢測儀器正接線精度時,應(yīng)使用全屏蔽插頭連接試品,否則暴露的芯線會引起測量誤差。

(3)應(yīng)保證引線與試品低壓端0電阻連接,否則可能引起誤差或數(shù)據(jù)波動,也可能引起儀器保護(hù)。

(4)強(qiáng)干擾下拆除接線時,應(yīng)在保持電纜接地狀態(tài)下斷開連接,以防感應(yīng)電擊。

標(biāo)準(zhǔn)電容輸入Cn插座(10μA~)

功    能:輸入外接標(biāo)準(zhǔn)電容器電流。

接線方法:與Cx插座類似,其區(qū)別在于:

(1)使用外部標(biāo)準(zhǔn)電容器時,應(yīng)使用全屏蔽插頭連接。此方式常用于外接高電壓等級標(biāo)準(zhǔn)電容器,實現(xiàn)高電壓介損測量。

(2)菜單選擇“外標(biāo)準(zhǔn)電容”方式。

(3)將外接標(biāo)準(zhǔn)電容器的C和tgδ置入儀器,實現(xiàn)Cx電容介損的值測量。

從理論上講,任何容量和介損的電容器,將參數(shù)置入儀器都可做標(biāo)準(zhǔn)電容器。不同的是標(biāo)準(zhǔn)電容器能提供更好的長期穩(wěn)定性和精度。

(4)不管正接線還是反接線測量,標(biāo)準(zhǔn)電容器接線方式始終為正接線。

總電源開關(guān):開關(guān)機(jī)用,可在發(fā)現(xiàn)異常時隨時關(guān)閉。

供電電源插座:接220V市電,插座內(nèi)置保險絲座,保險絲規(guī)格為10A / 250V,若損壞應(yīng)使用相同規(guī)格的保險絲替換。若換用備用保險絲后仍燒斷,可能儀器有故障,可通知廠家處理。

高壓允許開關(guān):內(nèi)置高壓系統(tǒng)或CVT自激法低壓輸出系統(tǒng)的總電源開關(guān)。此開關(guān)受總電源開關(guān)控制。

按鍵:按下“↑”、“↓”、“←”、“→”鍵可移動光標(biāo)和修改光標(biāo)處內(nèi)容,“確認(rèn)”鍵用于確認(rèn)或結(jié)束參數(shù)修改,在測試界面長按該鍵可開始測量,測量過程中,按“確認(rèn)”鍵可終止測量。

液晶顯示屏:320×240點陣灰白背光液晶顯示屏,顯示菜單、測量結(jié)果或出錯信息。應(yīng)避免長時間陽光爆曬,避免重壓。

背光調(diào)節(jié):液晶顯示屏顯示較暗或不清晰時可調(diào)節(jié)該電位器至合適位置使顯示明亮清晰。

指示燈:配合儀器內(nèi)部蜂鳴器進(jìn)行測試、報警等聲光警示。

 

變頻介質(zhì)損耗測試儀廣泛的應(yīng)用性

使用說明

3.1初始菜單界面

打開總電源開關(guān)后,系統(tǒng)進(jìn)入初始菜單界面。

測試模式:選擇測試模式和設(shè)置各項測試參數(shù),

歷史記錄:查看保存的歷史數(shù)據(jù)

系統(tǒng)設(shè)置:出廠參數(shù)設(shè)置及系統(tǒng)時間校準(zhǔn)

幫    助:可查閱軟件版本等信息

取消或使用CVT自激法“高壓連線拖地”功能:

開機(jī)右下角顯示“”表示該儀器在CVT自激法測試時高壓連線具備拖地功能。

光標(biāo)停留在“測試模式”處長按“→”鍵(聽到蜂鳴器聲音松手)可取消或使用拖地模式(右下角顯示“”表示當(dāng)前為拖地模式),在拖地模式下必須將高壓連線的接地屏蔽層插頭接至圖2-1中的“1”(高壓測量接地)處,否則會引起測量誤差;取消拖地模式后高壓連線必須懸空吊起,同時高壓連線的接地屏蔽層插頭也應(yīng)懸空,否則會引起測量誤差。

使用或取消發(fā)“發(fā)電機(jī)供電”模式:

光標(biāo)停留在“測試模式”處長按“←”鍵(聽到蜂鳴器聲音松手)可使用或取消發(fā)電機(jī)供電模式(左下角顯示“”表示當(dāng)前為發(fā)電機(jī)供電模式),儀器開機(jī)默認(rèn)為市電供電模式,發(fā)電機(jī)模式適合使用發(fā)電機(jī)或移動電源供電環(huán)境,發(fā)電機(jī)模式下儀器將不進(jìn)行接地檢測。

3.2測試模式

3.2.1 開始測試菜單界面

在初始菜單界面將光標(biāo)移動到“測試模式”按確定按鈕進(jìn)入開始測試菜單界面,如圖3-2所示。

界面左側(cè)為參數(shù)設(shè)置選項,移動光標(biāo)到相關(guān)參數(shù)選項按確定鍵可設(shè)置相關(guān)試驗參數(shù),右側(cè)顯示內(nèi)容為已設(shè)置好試驗參數(shù),光標(biāo)停留在“開始測試”欄長按“確認(rèn)” 鍵可開始測試。

界面右側(cè)“測試地點”下一行為信息提示行,若內(nèi)外高壓選擇有誤則提示“當(dāng)前為內(nèi)高壓模式,請開啟內(nèi)高壓”或“當(dāng)前為外高壓模式,請關(guān)閉內(nèi)高壓”;若儀器沒有接地則會提示“請檢查接地”,當(dāng)有錯誤提示時儀器無法正常啟動,只有提示“確認(rèn)無誤后長按確認(rèn)鍵開始測試”時儀器方可啟動測試。

3.2.2 試品模型選擇菜單界面

將光標(biāo)移動到“試品模型”功能選項,界面如圖3-3所示,按“確認(rèn)”按鈕后移動光標(biāo)可選擇合適的試品模型(光標(biāo)移動到相應(yīng)功能后按確認(rèn)鍵)。實驗室一般使用串聯(lián)型介損因數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器檢定,校驗時應(yīng)使用RC串聯(lián)模型。

RC串聯(lián)(電流比較儀型電橋):采用電流比較儀型電橋(如QS30電橋)校準(zhǔn)的串聯(lián)型試品(或介質(zhì)損耗因數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器),該項在開始測試界面顯示"RC串聯(lián)"。

RC串聯(lián)(西林型電橋): 采用西林型電橋(如2801、QS1和QS37等電橋)校準(zhǔn)的串聯(lián)型試品(或介質(zhì)損耗因數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器) ,該項在開始測試界面顯示 "RC串聯(lián)"。

RC并聯(lián)(現(xiàn)場使用):一般實際的電容試品可等效為RC并聯(lián)模型,建議現(xiàn)場試驗時使用。

采用電流比較儀型電橋和西林型電橋校準(zhǔn)的串聯(lián)型試品(或介質(zhì)損耗因數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器)的區(qū)別只是電容量不同:為西林型電橋標(biāo)定值,C為電流比較儀型電橋標(biāo)定值。

3.2.3 接線方式選擇菜單界面

將光標(biāo)移動到“接線方式”功能選項,界面如圖3-4所示,按“確認(rèn)”按鈕后移動光標(biāo)可選擇合適的接線方式。

接線方式:共5種接線方式(功能因型號有差別,具體詳見型號功能說明部分),分別為:正接線、反接線、反接線低壓屏蔽、CVT自激法和變比。選擇CVT自激法測量時需同時將相關(guān)參數(shù)一并設(shè)置好。

CVT自激法測量必須打開內(nèi)高壓允許開關(guān),由機(jī)內(nèi)提供激勵電壓,由“低壓輸出”和“測量接地”輸出。為安全起見,CVT自激法還需要設(shè)置以下幾個保護(hù)限:

將光標(biāo)移動到xxkV / xxmA / xxV / xxA,按↑↓選擇合適值,選擇好后按確認(rèn)鍵退出。

xxkV:可選0.5/0.6/0.8/1/1.5/2/2.5/3/3.5/4kV,為高壓上限,只能使用4kV以下電壓。

xxmA:可選10/15/20/25/30/35/40/45/50/60/70/80/100/120/140/200mA,表示待測試品的高壓電流上限。

xxV:可選3/4/5/6/7/8/9/10/12/15/20/25/30/35/40/50V,表示低壓激勵電壓上限。

xxA:可選3/4/5/6/7/8/9/10/11/12/13/14/15/16/20/30A,表示低壓激勵電流上限。

注意:

(1)測量時4個保護(hù)限同時起作用,因此試驗高壓可能達(dá)不到設(shè)定值。如果高壓達(dá)不到保護(hù)限,可適當(dāng)調(diào)整受到限制的保護(hù)限。

(2)通常測量C1時低壓激勵電壓可達(dá)20V,測量C2時低壓激勵電流可達(dá)1。一般可設(shè)高壓電壓2~3kV,較少采用高壓電流限制,可設(shè)為大200mA。

變比測量時應(yīng)選擇合適的高壓輸出使二次側(cè)電壓小于120V,當(dāng)二次側(cè)電壓≥120V時儀器會發(fā)出聲光報警并提示“接線錯誤”。

3.2.4 標(biāo)準(zhǔn)電容選擇菜單界面

將光標(biāo)移動到“標(biāo)準(zhǔn)電容”功能選項,界面如圖3-5所示,按“確認(rèn)”按鈕后移動光標(biāo)可選擇合適的標(biāo)準(zhǔn)電容。選擇外標(biāo)準(zhǔn)電容時需同時將外標(biāo)準(zhǔn)的電容量和介損一并設(shè)置好。

選擇外標(biāo)準(zhǔn)電容時將光標(biāo)移動到Cn=xxxxx e x pF 和tgδ=xx.xxx%按↑↓選擇合適值,選擇好后按確認(rèn)鍵退出。

Cn采用科學(xué)計數(shù)法,如5.000e1=5.000×101=50.00,1.000e2=1.000×102=100.0等,范圍0.000e0~9.999e5 (即0~999900pF)。tgδ設(shè)置范圍0~±9.999%。

內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)電容通常可用于正、反接線測量和CVT自激法測量,高電壓介損選用外標(biāo)準(zhǔn)方式,需要將外接電容參數(shù)置入儀器。

3.2.5 測試頻率選擇菜單界面

測試頻率可選擇定頻或異頻,頻率選擇菜單界面如圖3-6所示,頻率選擇范圍如下:

定頻:

“50Hz”:為工頻測量,此設(shè)置不能抗干擾,在試驗室內(nèi)測量或校驗時選用。

“45/55/60/65Hz”:為單頻率測量,研究不同頻率下介損的變化時選用。

頻率自適應(yīng):外高壓測量模式下有效(不能更改),系統(tǒng)自動識別外施高壓頻率,測試頻率無需在測試前設(shè)置。

異頻:

“45/55Hz”:為自動變頻,適合50Hz電網(wǎng)工頻干擾下測量。

“55/65Hz”:為自動變頻,適合60Hz電網(wǎng)工頻干擾下測量。

“47.5/52.5Hz”:為自動變頻,適合50Hz電網(wǎng)工頻干擾下測量。

3.2.6 測試電壓選擇菜單界面

內(nèi)高壓可選擇“0.5 /0.6 /0.8 /1 /1.5 /2 /2.5 /3 /3.5 /4 /4.5 /5 /5.5 /6 /6.5 /7 /7.5 /8 /8.5 /9 /9.5 /10.0kV”(F型高輸出電壓為12kV),應(yīng)根據(jù)高壓試驗規(guī)程選擇合適的試驗電壓。

注:若選擇“CVT自激法”測試功能,則該選項無效。CVT自激法的相關(guān)電壓參數(shù)需在該功能選項下進(jìn)行設(shè)置。

3.2.7 測試備忘設(shè)置菜單界面

設(shè)備編號:可設(shè)置8位字母或數(shù)字編號,將光標(biāo)移動到”設(shè)備編號”處,按確認(rèn)健進(jìn)入設(shè)備編號設(shè)置,通過“←”、“→”健移動光標(biāo),通過↑↓選擇合適值,設(shè)置好后按確認(rèn)鍵退出。

測試人員:可設(shè)置8位字母或數(shù)字編號,將光標(biāo)移動到” 測試人員”處,按確認(rèn)健進(jìn)入測試人員設(shè)置,通過“←”、“→”健移動光標(biāo),通過↑↓選擇合適值,設(shè)置好后按確認(rèn)鍵退出。

測試地點:可設(shè)置8位字母或數(shù)字編號,將光標(biāo)移動到” 測試地點”處,按確認(rèn)健進(jìn)入測試地點設(shè)置,通過“←”、“→”健移動光標(biāo),通過↑↓選擇合適值,設(shè)置好后按確認(rèn)鍵退出。

3.2.8 測試結(jié)果界面

3.2.8.1反接法測試結(jié)果界面

測試完成顯示結(jié)果后,可移動光標(biāo)選擇保存或打印數(shù)據(jù)。

儀器自動分辨電容、電感、電阻型試品:電容型試品顯示Cx和tgδ;電感型試品顯示Lx和Q;電阻型試品顯示Rx和附加Cx或Lx。自動選取顯示單位。

試品為電容時:顯示數(shù)據(jù)為Cx、tgδ、Ux、Ix、Φ、f1、f2, |δ|>1則顯示電容和串/并聯(lián)電阻

試品為電感時:顯示數(shù)據(jù)為Lx、Q、Ux、Ix、Φ、f1、f2, |Q|<1則顯示電感和串聯(lián)電阻

試品為電阻時:顯示數(shù)據(jù)為Cx(Lx)、Rx、Ux、Ix、Φ、f1、f2

Cx   試品電容量[1μF=1000nF納法 / 1nF=1000pF],如顯示10.00nF即10000pF

tgδ 介損因數(shù)[1%=0.01]

Lx   試品電感量[1MH兆亨=1000kH / 1kH=1000H]

Q    品質(zhì)因數(shù)[無單位]

Rx   試品電阻值[1MΩ=1000kΩ / 1kΩ=1000Ω]

Ux   試驗電壓[1kV=1000V / 1V=1000mV]

Ix   試品電流[1A=1000mA / 1mA=1000μA]

Φ   試品電流超前試驗電壓的角度[°度]或測變比時一次電壓超前二次電壓的角度

K    測CVT變比時,一次電壓比二次電壓

f1   頻率[Hz],顯示*次測試頻率

f2   頻率[Hz],顯示第二次測試頻率

顯示over表示測量數(shù)據(jù)超量程。

3.2.8.2反接線低壓屏蔽測試結(jié)果界面

反接線低壓屏蔽測試一次接線可同時測出C11和C下節(jié)(下端屏蔽部分)的電容量和介損值。

3.2.8.3 CVT自激法測試結(jié)果界面

CVT自激法按測量接線,與試品輸入Cx插座連接的定義為C1,與高壓線連接的為C2。U1為測量C1時的高壓,U2為測量C2時的高壓。

3.3歷史數(shù)據(jù)

進(jìn)入歷史數(shù)據(jù)菜單界面如圖3-12所示。

移動光標(biāo)到“U盤”選項按“確定”鍵可將數(shù)據(jù)導(dǎo)出到U盤,上移到“清空”選項按“確定”鍵可清空保存的全部數(shù)據(jù)。將光標(biāo)移動到“>>>>”選項按下“確定”鍵進(jìn)入數(shù)據(jù)選擇界面,光標(biāo)位置默認(rèn)停留在近保存的單條數(shù)據(jù)上,若要查看其他數(shù)據(jù)可上下移動光標(biāo)進(jìn)行選擇,選擇好要查看的數(shù)據(jù)后按“確定”按鈕進(jìn)入單條歷史數(shù)據(jù)顯示界面。歷史數(shù)據(jù)選擇界面和單條歷史數(shù)據(jù)顯示界面如圖3-13和圖3-14所示。

進(jìn)入單條歷史數(shù)據(jù)顯示界面后,在左側(cè)功能選項區(qū)上下移動光標(biāo)可選擇打印、刪除本條數(shù)據(jù)和退出單條歷史數(shù)據(jù)顯示界面。

3.4系統(tǒng)設(shè)置

進(jìn)入系統(tǒng)設(shè)置菜單可進(jìn)行系統(tǒng)時間校準(zhǔn),“出廠設(shè)置”參數(shù)禁止用戶修改,只允許生產(chǎn)廠家進(jìn)行出廠參數(shù)設(shè)置。

3.5幫助

可查看儀器的相關(guān)操作指導(dǎo)。

3.6啟動測量

進(jìn)入測試界面設(shè)置好各項試驗參數(shù)后,將光標(biāo)移動到“開始測試”功能選項上,按住“確認(rèn)”鍵3s以上啟動測量。

啟動測量后發(fā)出聲光報警;在測試過程中會實時顯示測試相關(guān)參數(shù)(電壓、電流、頻率、電容量等參數(shù))和測量進(jìn)程(0%~99%)。

測量中按“確認(rèn)”鍵可取消測量,遇緊急情況立即關(guān)閉總電源。

測量過程結(jié)束,儀器自動降壓后再顯示結(jié)果。

3.7對比度調(diào)節(jié)

液晶顯示屏的對比度已在出廠時校好,如果您感覺不夠清晰,調(diào)整面板上的電位器使液晶顯示屏顯示內(nèi)容清晰為止。

 

變頻介質(zhì)損耗測試儀廣泛的應(yīng)用性

參考接線

4.1常規(guī)正接線(正接線、內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)電容、內(nèi)高壓)

4.2常規(guī)反接線(反接線、內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)電容、內(nèi)高壓)

4.3正接線、外標(biāo)準(zhǔn)電容、內(nèi)高壓

4.4反接線、外標(biāo)準(zhǔn)電容、內(nèi)高壓

4.5正接線、內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)電容、外高壓

4.6反接線、內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)電容、外高壓

4.7正接線、外標(biāo)準(zhǔn)電容、外高壓(高電壓介損)

4.8反接線、外標(biāo)準(zhǔn)電容、外高壓

4.9反接線低壓屏蔽

可在220kV CVT母線接地情況下,對C11進(jìn)行不拆線10kV反接線介損測量。如下圖所示:母線掛地線,C11上端不拆線,C11下端接高壓線芯線,C2末端δ和X接Cx芯線。這樣C12和C2被低壓屏蔽,儀器采用反接線低壓屏蔽測量方式,可同時測出C11和下端被屏蔽部分的電容量和介損值。

4.10 CVT自激法

高壓線芯線接C2下端,Cx芯線接C12上端。在CVT 自激法測量中,儀器先測量C12,然后自動倒線測量C2,并自動校準(zhǔn)分壓影響。

1)D型高壓連線不可拖地,高壓線應(yīng)懸空不能接觸地面(高壓線的接地屏蔽層插頭必須懸空),否則其對地附加介損會引起誤差,可用細(xì)電纜連接高壓插座與CVT試品并吊起。

2)E、F、S、J型高壓連線可拖地使用,在開機(jī)初始界面(圖3-1界面),光標(biāo)停留在“測試模式”處長按“→”鍵(聽到蜂鳴器聲音松手)可取消或使用拖地模式(右下角顯示“”表示當(dāng)前為拖地模式),在拖地模式下必須將高壓連線的接地屏蔽層插頭接至圖2-1中的“1”(高壓測量接地)處,否則會引起測量誤差;取消拖地模式后高壓連線必須懸空吊起,高壓連線的接地屏蔽層插頭也應(yīng)懸空,否則會引起測量誤差。拖地模式下的高壓連線必須使用原廠配置的電纜(已校準(zhǔn)),否則會引起測量誤差!

4.11 CVT變比測試

儀器高壓線的芯線紅夾子接CVT的上端,母線拆地,CVT下端接地,低壓線紅黑夾子接二次繞組。

 

變頻介質(zhì)損耗測試儀廣泛的應(yīng)用性

常見CVT的參考測量方法

目前常見的電容式電壓互感器可分為110kV、220kV、500kV等不同電壓等級,一般110kV的CVT其C1就一節(jié),220kV的CVT其C1有兩節(jié),而500kV的CVT其C1有三節(jié)。

5.1  500kV CVT的測量方法

1)C11的測量方法

按圖5-1標(biāo)明的方式接線,測量C11時應(yīng)注意:

◇ 拆開δ端,X端一定要接地

◇ a點接紅色高壓測試線的芯線(紅夾子),b點接紅色高壓測試線的高壓屏蔽層(黑夾子)

2)C12的測量方法

按圖5-2標(biāo)明的方式接線,測量C12時注意:

◇ 拆開δ端,X端一定要接地

◇ a點接紅色高壓測試線芯線(紅夾子),b點接黑色低壓測試線芯線(紅夾子)

3)C13和C2的測量方法

儀器設(shè)有專門的CVT自激法,不需外加任何其它設(shè)備,就可以完成測試。按圖5-3標(biāo)明的方式接線,儀器選用CVT自激法測量方式,試驗電壓可設(shè)置為2kV,CVT自激法能一次測量C13和C2兩個電容的介損和電容量。

5.2  220kV CVT的測量方法

1)C11的測量方法

按圖5-4標(biāo)明的方式接線,測量C11時注意:

◇ δ和X相連,與接地分開。

◇ a點接紅色高壓測試線的芯線(紅夾子),C2末端δ和X 接Cx端芯線,這樣C12與C2就被低壓屏蔽了。

2)C12和C2的測量方法

儀器設(shè)有專門的CVT自激法,不需外加任何其它設(shè)備,就可以完成測試。按圖5-5標(biāo)明的方式接線,儀器選用CVT自激法測量方式,試驗電壓可設(shè)置為2kV,CVT自激法能一次測量C12和C2兩個電容的介損和電容量。

5.3  110kV CVT的測量方法

儀器設(shè)有專門的CVT自激法,不需外加任何其它設(shè)備,就可以完成測試。按圖5-6標(biāo)明的方式接線,儀器選用CVT自激法測量方式,試驗電壓可設(shè)置為2kV,CVT自激法能一次測量C13和C2兩個電容的介損和電容量。

 

變頻介質(zhì)損耗測試儀廣泛的應(yīng)用性

現(xiàn)場試驗注意事項

如果使用中出現(xiàn)測試數(shù)據(jù)明顯不合理,請從以下方面查找原因:

6.1搭鉤接觸不良

現(xiàn)場測量使用搭鉤連接試品時,搭鉤務(wù)必與試品接觸良好,否則接觸點放電會引起數(shù)據(jù)嚴(yán)重波動!尤其是引流線氧化層太厚,或風(fēng)吹線擺動,易造成接觸不良。

6.2接地接觸不良

接地不良會引起儀器保護(hù)或數(shù)據(jù)嚴(yán)重波動。應(yīng)刮凈接地點上的油漆和銹蝕,務(wù)必保證0電阻接地!

6.3直接測量CVT或末端屏蔽法測量電磁式PT

直接測量CVT的下節(jié)耦合電容會出現(xiàn)負(fù)介損,消除負(fù)介損可采取下述措施或改用CVT自激法測量:

1)測試時測量儀器的接地端直接接在被試品的金屬底座上,并保證接觸良好。

2)條件允許時盡可能將非被試?yán)@組短接,以減小電感和鐵心損耗的影響。

3)被試品周圍不應(yīng)有鐵架、腳手架、木梯等物體,盡可能減小分布阻抗的影響。

4)試驗引線與被試品的夾角應(yīng)盡可能接近90°,以減小線與試品間的分布電容。

用末端屏蔽法測量電磁式PT時,由于受潮引起“T形網(wǎng)絡(luò)干擾”出現(xiàn)負(fù)介損,吹干下面三裙瓷套和接線端子盤即可。也可改用常規(guī)法或末端加壓法測量。

6.4空氣濕度過大

空氣濕度大使介損測量值異常增大(或減小甚至為負(fù))且不穩(wěn)定,必要時可加屏蔽環(huán)。因人為加屏蔽環(huán)改變了試品電場分布,此法有爭議,可參照有關(guān)規(guī)程。

6.5發(fā)電機(jī)供電

發(fā)電機(jī)供電時可采用定頻50Hz模式工作。

6.6測試線

1)由于長期使用,易造成測試線隱性斷路,或芯線和屏蔽短路,或插頭接觸不良,用戶應(yīng)經(jīng)常維護(hù)測試線。

2)測試標(biāo)準(zhǔn)電容試品時,應(yīng)使用全屏蔽插頭連接,以消除附加雜散電容影響,否則不能反映儀器精度。

3)自激法測量CVT時,若使用“高壓連線拖地”功能,請務(wù)必使用原廠配置的高壓電纜(原廠電纜在出廠時已進(jìn)行校準(zhǔn)),高壓連線的接地屏蔽層必須接地,不可使用其它高壓電纜代替,否則會引起較大的測量誤差。若拖地模式下測量誤差較大,則需將高壓電纜返廠重新進(jìn)行校準(zhǔn)。

4)自激法測量CVT時,非的高壓線應(yīng)吊起懸空,否則對地附加雜散電容和介損會引起測量誤差。使用電纜在非拖地模式下測量CVT,高壓電纜也應(yīng)懸空且電纜的接地屏蔽層不能接地,否則會引起較大的測量誤差。

6.7工作模式選擇

接好線后請選擇正確的測量工作模式,不可選錯。特別是干擾環(huán)境下應(yīng)選用變頻抗干擾模式。

6.8試驗方法影響

由于介損測量受試驗方法影響較大,應(yīng)區(qū)分是試驗方法誤差還是儀器誤差。出現(xiàn)問題時可首先檢查接線,然后檢查是否為儀器故障。

6.9儀器故障

1)用萬用表測量一下測試線是否斷路,或芯線和屏蔽是否短路;

2)輸入電源220V過高或過低;接地是否良好;

3)用正、反接線測一下標(biāo)準(zhǔn)電容器或已知容量和介損的電容試品,如果結(jié)果正確,即可判斷儀器沒有問題;

4)拔下所有測試導(dǎo)線,進(jìn)行空試升壓,若不能正常工作,儀器可能有故障。

 

變頻介質(zhì)損耗測試儀廣泛的應(yīng)用性

儀器檢定

7.1檢定

用帶插頭的屏蔽電纜連接標(biāo)準(zhǔn)損耗器。如果不能保證標(biāo)準(zhǔn)損耗器的精度,應(yīng)使用比對法檢定,建議用2801電橋或其它精密電橋作比對標(biāo)準(zhǔn)。

1)介質(zhì)損耗因數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器一般為串聯(lián)模型,因此儀器的試品模型應(yīng)選擇“RC串聯(lián)(電流比較儀型電橋)”或“RC串聯(lián)(西林型電橋)”。

RC串聯(lián)(電流比較儀型電橋):采用電流比較儀型電橋(如QS30電橋)校準(zhǔn)的串聯(lián)型試品(或介質(zhì)損耗因數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器),該項在開始測試界面顯示"RC串聯(lián)"。

RC串聯(lián)(西林型電橋): 采用西林型電橋(如2801、QS1和QS37等電橋)校準(zhǔn)的串聯(lián)型試品(或介質(zhì)損耗因數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器) ,該項在開始測試界面顯示 "RC串聯(lián)"。

采用電流比較儀型電橋和西林型電橋校準(zhǔn)的串聯(lián)型試品(或介質(zhì)損耗因數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器)的區(qū)別只是電容量不同:

為西林型電橋標(biāo)定值,C為電流比較儀型電橋標(biāo)定值。

2)用介質(zhì)損耗因數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器(或標(biāo)準(zhǔn)電容器)檢定儀器反接線精度時,高壓電纜與試品連接必須使用全屏蔽插頭,否則暴露的芯線會引起測量誤差。

3)用介質(zhì)損耗因數(shù)標(biāo)準(zhǔn)器(或標(biāo)準(zhǔn)電容器)檢定儀器正接線精度時,低壓電纜與試品連接必須使用全屏蔽插頭,否則暴露的芯線會引起測量誤差。

嚴(yán)格按照上述要求檢定方能真實反映本儀器的測量精度!

7.2抗干擾能力

設(shè)置一個回路向儀器注入定量的干擾電流。

注意:

1)應(yīng)考慮到該回路可能成為試品的一部分。

2)儀器啟動后會使220V供電電路帶有測量頻率分量,如果該頻率分量又通過干擾電流進(jìn)入儀器,則無法檢驗儀器的抗干擾能力。

3)不建議用臨近高壓導(dǎo)體施加干擾,因為這樣很容易產(chǎn)生近距離放電,這種放電電阻是非線性的,容易產(chǎn)生同頻干擾。

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